Система UltraFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной цифровой логики и операционных усилителей до сложнейших современных БИС, включая System-On-Chip (SOC) до System In Package (SIP).

Оригинальная архитектура систем позволяет подключать к любому выводу тестируемой микросхемы все имеющиеся инструменты: цифровой ввод-вывод, источники сигналов постоянного и переменного тока, блоки питания, модули параметрического контроля, генераторы, формирователи и измерители временных параметров.

 

Отличительные особенности:

• до 2240 цифровых каналов
• до 500 МГц частота тестового вектора
• до 192 аналоговых каналов

 

Области применения:

Контроль параметров полупроводниковых компонентов и микросхем на пластине и в корпусе. 

Исследовательские работы с полупроводниковыми компонентами и микросхемами. 

 

Опции:

 

Модуль Memory Test Option (MTO): 

• встроенная программно-аппаратная опция для реализации тестирования микросхем памяти;
• автоматическая генерация алгоритма проверки (X,Y адрес 16 разрядов, данные – 32 разряда);
• отслеживание ошибок чтения/записи «на лету»;  
• частота тестирования до 100 МГц.

 

Модуль SCAN test:

• Реализация тестирования микросхем через JTAG интерфейс
• Объединение нескольких каналов в последовательную цепь с увеличением объёма памяти

 

Буферированный ввод вывод:

• Реализации тестирования микросхем АЦП и ЦАП. 
• Задание цифрового кода (для ЦАП) либо считывание значений (для АЦП) в асинхронном режиме. 
• Включает в себя 6 независимых 16-ти разрядных сигнальных процессора с памятью до 16 Мбит (256 Мбит памяти на каждый процессор).
• Возможность объединения процессоров для увеличения разрядности до 32-х