Бесконтактная, основанная на методе маскирования фотолитографическая установка EVG®PHABLE™, реализующая операцию экспонирования при производстве фотонных компонентов. Система обеспечивает высокое разрешение и экономичное микро- и наноструктурирование пассивных и активных компонентов, например, создает на полупроводниковых пластинах шаблонные структуры светодиодов.
Установка EVG PHABLE — первое полностью автоматическое производственное оборудование, реализующее технологию PHABLE™ (сокр. от photonics enabler — «помощник в области фотоники») швейцарской компании Eulitha AG.
Система EVG PHABLE сочетает низкую стоимость владения, легкость работы и возможности осуществления бесконтактной микрозазорной фотолитографии с субмикронным разрешением фотолитографических степперов для обеспечения экономичного автоматизированного мультиплицирования шаблонов фотонных компонентов на большие площади, что обеспечивает способность данной системы работать с сапфировыми подложками или повышать светоотдачу (и таким образом эффективность) светодиодных устройств. Метод сдвиговой фотолитографии, основанный на эффекте Талбота, — Displacement Talbot Lithography — позволяет производить структуры с размерами от 3 мкм до 200 нм без снижения глубины резкости и стыков, что может возникнуть при работе с другим оборудованием. В результате достигается возможноть формирования структур на подложках, достигающих 6 дюймов в диаметре, за один шаг экспозиции. Это позволяет поддерживать высокую производительность системы EVG PHABLE вне зависимости от габаритов полупроводниковой пластины, а также сохранять очень большие зазоры экспозиции (до нескольких сотен микрон) между маской и пластиной, таким образом избегая загрязнения маски, что свойственно данной технологии.
Система EVG PHABLE способна реализовывать как одномерные шаблоны (линии и зазоры), так и двухмерные, такие как шестиугольные и квадратные решетки. Таким образом, в системе нашли поддержку различные способы повышения светоотдачи светодиодов.
Применение периодических структур
Возможности EVG PHABLE
Настройки |
Размеры структур |
||
Нм |
Мкм |
||
Ламповый блок |
Нано режим |
Микродозы |
|
Маска |
Структуры и шаг нанометровых размеров |
Структуры и шаг микрометровых размеров |
|
Тестированные гексагональные структуры |
|||
Параметр |
Значение |
||
Толщина фоторезиста |
0,5 мкм – 3,5 мкм |
||
Диаметр отверстия/выступа |
0,3 мкм – 2,0 мкм |
||
Шаг |
0,6 мкм – 3,0 мкм |
||
Зазор экспонирования |
50 мкм – 500 мкм |
Зазор при экспонировании |
Обычно: 30 мкм – 600 мкм |
Разрешение структур |
Минимальный размер структур до 200 нм |
Максимальный размер структур до 3 мкм |
|
Производительность |
50 подложек в час и более |
Не зависит от размера подложки - экспонирование всей подложки.